Evolution One 紫外-可见分光光度计，840-341400，赛默飞世尔

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品牌型号：赛默飞世尔 840-341400

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紫外线强度计（带数据记录功能），UV-37SD，测定范围（紫外线／温度）:0〜1.999mw/cm2・2.00〜20.00mw/cm2／−50〜＋1300℃，分辨率（紫外线／温度）:0.001mw/cm2・0.01mw/cm2／0.1℃，1-1934-01，AS ONE，亚速旺

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产品介绍 Product Description

规格
基线平坦度:	±0.001 A，200–800 nm，1.0 nm SBW，平滑化
描述:	Evolution One 紫外-可见分光光度计
检测器类型:	双硅光电二极管
尺寸（长 x 宽 x 高）:	593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.)
光源:	氙闪光灯
产品线:	Evolution One
光谱带宽:	1.0 nm
类型:	紫外-可见分光光度计
Wavelength Range:	190 nm 到 1100 nm
漂移:
电气要求:	100/240 V，自动选择 50/60 Hz，最大 150 W
灯寿命:	如果不使用实时信号，寿命 >5 年或更长
噪声:	0 A：≤0.00015 A 1A：≤0.00025 A 2A：≤0.00050 A 260 nm，1.0 nm SBW，RMS
光学设计:	双光束（带有样品和参考比色皿位置）；Czerny-Turner 单色器
药典合规性测试:	光度准确度 (60mg/L K2Cr2O7)：±0.010A 杂散光：≤1%T @ 198 nm：KCI；≤0.05%AT @ 220 nm：Nal，Kl 波长准确度：±0.5 nm（541.9、546.1 nm Hg 发射线），±0.8 nm（全范围）波长重复精度：≤0.05 nm，546.1 nm Hg 发射线重复扫描
光度精度:	1 A：±0.004 A，2 A：±0.008 A，采用可追溯至 NIST 的中性密度滤光片在 440 nm 处测得
光度显示:	-0.3 至 4.0 A
光度范围:	>3.5 A
透射比重复性:	1 A：±0.0002 A
扫描纵坐标模式:	Absorbance,% Transmittance,% Reflectance,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*Factor,Intensity
扫描速度:
质保期:	仪器（2年），灯（3年）
瓦数:	最大 150 W
波长精度:	±0.5 nm（541.9、546.1 nm 汞线），±0.8 nm（190 至 1100 nm 全范围）
波长数据间隔:	10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1 nm
波长重复性:	≤0.05 nm（546.1 nm 汞线，10次测量的 SD）
重量（英制）:	32 lb.
重量（公制）:	14.5 kg
Unit Size:	Each

描述

无论常规分析还是研究分析，该系列仪器真正的创新之处在于增强了实用性和性能 - 却不会增加复杂性。简单的软件、先进的仪器以及广泛的配件选择让 Evolution One 和 One Plus 紫外-可见分光光度计能按您希望的方式进行实验并获得您需要的结果。

优化的工程学设计可提供出色性能：

具有固定 1 nm 或可变光谱带宽选项的双光束几何元件
光学汇聚 (AFBG) 技术极大程度上优化了微量池、固体样品和光纤探头的性能（仅限 Evolution One Plus）
氙闪光灯无需预热时间，可进行瞬时测量
使用各种配件满足化学、材料科学或生物采样和测量需求

Insight Pro 软件—易于学习、易于使用

缩短培训时间：具有提示软件的优化用户界面定义了清晰的分步工作流程，易于教授和学习
避免出现代价高昂的采样和测量错误：创建用于复杂分析的专用工作流程，并将多步骤工作流程转换为一种简化的、易于遵循的方法，适合任何级别的用户在自定义用户环境 (CUE) 中使用
始终保持最新状态：无论是用户输入、应用程序要求，还是新法规，Insight Pro 软件都可通过快速升级不断改进，从而提供更出色的功能和效率，以满足您实验室的需求

满足所有采样需求的配件：